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| Prüfung von Solarwafern mit GigE-Kameras | | Drucken | |
| News - Latest Machine Vision News | |||
| Dienstag, 17. März 2009 um 11:55 Uhr | |||
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Prüfung von Solarwafern mit GigE-Kameras ECKELMANN AG setzt bei der Wafer-Inspektion auf die GigE uEye® Kameraserie von IDS  Mit E.SEE-Waferinspect stellt die ECKELMANN AG ein schnelles System zur Inspektion von Solarwafern vor. Bei einer Auflösungsgenauigkeit von 50 µm erreicht das System Taktraten von 60 Wafer/Minuten. Herzstück des Systems ist eine GigE uEye HE Industriekamera der IDS GmbH. Die Kamera mit CMOS-Sensor nimmt in schneller Folge zwei Bilder des Wafers auf, mit denen das Waferinspect-System Kantenausbrüche, Risse und Verschmutzung erkennen kann. Das Spitzenmodell der schwäbischen Kamerabauer liefert 15 Bilder/s mit 5 MPixel in monochrom oder Farbe. Die Gigabit-Ethernet-Schnittstelle erlaubt zudem, den Wafer-Prüfplatz bis zu 100 m vom auswertenden PC entfernt aufzustellen. Zu den digitalen Ein-/Ausgängen der GigE uEye HE gehört neben Trigger, Blitz und programmierbaren GPIO eine RS232-Schnittstelle. So können serielle Daten vom PC direkt an der Kamera ausgegeben werden. Der interne FPGA bietet Funktionen zur Bildvorverarbeitung und erweitert somit die Einsatzmöglichkeiten der GigE uEye HE. Eine möglichst einfache Integration war bei ECKELMANN neben der hohen Bildauflösung Hauptkriterium bei der Kameraauswahl. Für die schnelle Einbindung liefert IDS das kostenlose uEye SDK. Das SDK enthält neben den Treibern auch Programmierbeispiele für die Kameraeinbindung samt Source-Code in C++, C# und VB. Anwender von Standardsoftware erhalten zudem eine ActiveX-Komponente und Schnittstellen für TWAIN, DirectShow/WDM sowie für viele gängige Machine-Vision-Bibliotheken. Die Kameras der HE Serie unterstützen, wie alle uEye Modelle, den neuen GenICam-Softwarestandard.
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